Stellenticket Berliner Hochschule für Technik

Das Arbeits­um­feld:
Moderne IC-Sys­teme stel­len in ihrem appli­ka­ti­ven Umfeld mit exter­nen Kom­po­nen­ten wie Stütz-Kapa­zi­tä­ten oder Induk­ti­vi­tä­ten immer kom­ple­xere Funk­tio­nen zur Ver­fü­gung und kön­nen in vie­len Fäl­len von Test­sys­te­men in iso­lier-ter elek­tri­scher Beschal­tung nicht mehr voll­stän­dig und zeit­op­ti­miert getes­tet wer­den. Ins­be­son­dere bei DC/DC-Wand­lern und deren Regel­schlei­fen­cha­rak­te­ri­sie­rung kann der Seri­en­test häu­fig nur durch die Bewer­tung einge-schränk­ter Teil­funk­tio­nen statt­fin­den. Um eine bes­sere Test­ab­de­ckung sol­cher Struk­tu­ren zu gewähr­leis­ten, kann man aktu­elle ATE-Mess­me­tho­den mit Built-in self-test (BIST) Struk­tu­ren kom­bi­nie­ren. Ähn­lich wie beim Logic-BIST kön­nen mit zusätz­li­chen Schal­tungs­tei­len geeig­nete Test­si­gnale erzeugt, auf eine intern kon­fi­gu­rierte Test­struk­tur ange­wen­det und mit Erwar­tungs­wer­ten ver­gli­chen wer­den. Diese Kom­bi­na­tion ermög­licht ICs eine kon­ti­nu­ier­li­che Selbst­über­prü-fung voll­stän­di­ger, appli­ka­ti­ver Wir­kungs­ket­ten.

Die Auf­gabe:
Aus­ge­hend von einem vor­lie­gen­den DC/DC-Wand­ler und des­sen Test­kon­zept soll zunächst ein Über­blick über aktu­ell übli­che Test­me­tho­den von Schalt­reg­lern erstellt wer­den. Aus der Zusam­men­stel­lung von Vor- und Nach­tei­len kön­nen anschlie­ßend mög­li­che Test­schwä­chen bzw. not­wen­dige Ein­schrän­kun­gen von appli­ka­ti­ven Wir­kungs­ket­ten abge­lei­tet wer­den. Mit Hilfe eines Modells der Regel­schleife inklu­sive der nöti­gen exter­nen Bau­ele­mente soll eine Test­mög­lich-keit für die Cha­rak­te­ri­sie­rung der Regel­schleife im Fre­quenz­be­reich erar­bei­tet wer­den, die unter Ver­wen­dung des inter­nen Pro­zes­sors und Spei­chers wei­test­ge­hend auto­nom ablau­fen kann.